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Taylor Hobson发布最新 CCI系列仪CCI MP-HS

星期三, 十二月 19, 2012

速度,量程,分辨率,精确度和可靠性-助您取得成功的关键

无论何种元件,无论多快的分析速度,CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪都能够以准确的3D面形状满足您的测量需求。拥有一百万像素与1/10埃的垂直分辨率相的高速测量,能够对从非常粗糙到极为光滑的所有表面类型进行详尽分析。

功能丰富–可随时用于生产运营或研究项目
正是与研究人员和科学家的密切配合,使得CCI MP-HS可随时满足各领域最为苛刻的测量要求。通过扩大可测量的元件范围,先进的拼接技术大大增加的本产品的附加值。

使用的简便性可减少操作员的培训成本
即便不常使用,也无需对操作员重新进行培训和指导。CCI MP-HS的设计便于科学家、学生、开发人员或生产检查人员使用。CCI MP-HS的创新功能如自动量程和自动条纹寻找等,可以简化样品的放置。为用户节省时间、减少错误并快速得出所需结果。

完整的平台无需 ISO-17025认证
不需要增加程序的复杂性就可使用户的分析能力得到极大提高。也不需要测量模式间进行复杂的切换,以及测量过程中校准镜头,就可以测量多种多样元件和表面。标准化的模式、程序和报告功能,使CCI MP-HS可轻松集成到用户的质量管理系统。

新一代3D摄像机技术

高分辨率
CCI MP-HS采用1024 x 1024的像素阵列图像传感器,比起像素阵列仅为 640 x 480,对横向分辨率构成极大限制的 VGA 视频摄像机技术,其优越性十分突出。可实现对较大区域的测量,而不会因视场的扩大而导致操作复杂或潜在的失真风险。

快速测量
高速灵敏的传感器和大视场意味着设置步骤更少,检测速度更快,对设备和操作员的利用率也更高。无需增加额外费用,就可以检测更多部件、检测更完整和更详细,成本效益得到极大提高。

让人满意的测量结果
对有着大于1百万数据点的测量表面精度可达到前所未有的水平。用户可以在开阔的 视场 中发现任意位置的表面缺陷或潜在的关注区域,可以通过放大灯进行详细分析,而不必浪费时间重新测量元件。

全新的摄像机技术
高分辨率的视觉分析提供了一种用于监控和改进制造流程的重要工具。精细的亚微米水平3D图像,可用于工程技术人员与潜在客户间的沟通、传输以及简单易懂的形象。