非接触式表面轮廓测量仪


Luphos
提供超高精密非接触式距离测量,用于工业制造、质量监控和科学研究等领域。Luphos拥有其核心技术多波长干涉(MWLI®)的专利权。

制造和研究
本系列非接触式光学计量工具包括 CCI HD、CCI MP 和 CCI MP-HS。 这些多功能仪器非常适合需要进行高精度 3D 轮廓分析的制造工业和研究领域使用。

光学领域
来自翟柯( ZYGO)的光学轮廓仪使用的是白光干涉技术。能够提供快速的、非接触式测量、高精密三维表面形状测量能力。 翟柯所有的光学轮廓仪都包含数据分析和仪器操作软件。