超精密非接触式三维形貌测量
LUPHOScan 260 专为提供超精确、非接触式三维表面测量而设计，测量速度极快，灵活性极高。其突出特点之一是能够在短至90秒内自动完成零件的居中和调平，极大地缩短了设置时间，并实现了生产和研究环境中的快速处理。
LUPHOScan 设计用途广泛，几乎可以测量和分析任何光学表面，包括非球面、球面、平面和自由曲面。其先进的扫描技术和智能软件使用户能够采集各种几何形状的高分辨率数据，成为测量复杂光学表面的理想选择。
除标准形状外，LUPHOScan 还提供无与伦比的测量灵活性。它可以处理分段表面、环形光学元件、矩形轮廓，甚至带有衍射的结构的表面。无论您使用的是阿克西康（Axicons）、Pancake 镜头（Pancake Lenses），还是鸥翼设计（Gullwing designs），该系统都能无缝适应您的测量需求。对于光学设计创新需要同样先进计量学解决方案的行业来说，这使其成为一个强大的工具。
真正灵活的系统——连续测量非旋转对称形状
独特的多波长干涉测量（Multi-Wavelength Interferometry，MWLI®）方法能够对任意几何或特殊形状的零件进行测量。MWLI®仅在’聚焦时采集测量数据，失焦数据将被忽略。可对非圆形工件进行一次连续测量，无需数据拼接。
- 精度 - 低至 35 nm (PV99i)
- 直径 - 最大 260 毫米
- 陡坡 - 高达 90°
- 低噪声 - ≤ ±5 nm (3σ) (RMS)
LUPHOScan 自动化 - 全新自动零件设置
一键对齐、测量和分析
LUPHOScan 260凭借其全自动定心和调平，实现了仪器的完全自动化，为光学计量学领域树立了新的标杆。这一创新简化了整个测量过程，用户只需‘单击’，即可完成对齐、测量和分析。通过大幅缩短设置时间，系统提高了吞吐量和效率，从而成为大批量生产环境的理想解决方案。
自动化还消除了操作员对齐技能的需求，确保不同用户和不同班次都能获得一致和可重复的结果。自动居中和调平过程每次都能实现可复现的定位，提升测量可靠性并减少测量波动。无论是在生产还是科研中，LUPHOScan 260都使团队能够专注于结果而非设置，为每一次测量带来速度、精度和信心。
LUPHOScan 260 为未来的完全自动化集成做好了准备。
- 脚本功能，便于接口对接
- OPC-UA 兼容性
- 优化流程，提高效率，降低成本！
透镜和反射镜的完整表征
通过‘Through the Lens’功能实现高级计量学
LUPHOScan 260 的新功能 ‘Through the Lens’（TTL）引入了一项强大的新能力，可用于测定内偏心—（即前后表面之间的偏心量—）和楔形度（即前后表面之间的倾斜角）。TTL 可在 30 秒内实现楔角误差低于 5 角秒、偏心误差低于 3 微米（具体取决于表面非球面的）且高度可靠的测量结果。
TTL的独特之处在于其能够在一次设定中同时测量表面形状误差、内同心度和楔形误差，有效优化工作流程并缩短处理时间。’是针对厚度通常在 10 毫米以下的镜片进行优化的，但也可支持更厚的镜片，这取决于其形状和折射率。此外，TTL 可与机械基准—（如法兰或外径—）的采集无缝结合，或集成至其他软件模块，提供全面且灵活的计量学解决方案。
关联基准参数的测量
除了对光学表面进行高精度形状测量外，LUPHOScan 260 还可获取来自靶标、外径、法兰面和斜面等的空间关系信息。
例如，可以识别非球面表面光轴与外径之间的同心度。额外的机械表面（非光学表面）也可以与光学表面一起在同一流程中进行测量和分析。可测量的参数包括圆度、圆柱度、平面度、角度和倾角（外径与光学表面之间的偏心量）。
光学表面、45°倒角、外径和平面互锁的测量。使用大幅面 LUPHOScan 平台进行测量。
LUPHOScan 系统具备先进的机械参考面测量能力，可采用二维圆形轮廓（默认）或三维螺旋/螺线扫描（可选）。这种灵活性允许精确测量法兰面、倾斜表面直径和外径等特征，并支持最大 90° 的凸面和 85° 的凹面。它’也非常适合处理不连续表面，例如在注塑成型零件中排除浇口区域，确保即使在复杂几何结构下也能获得准确结果。
无论表面是抛光还是磨削，LUPHOScan 都能在一次设置中测量表面形状误差和机械基准，从而简化工作流程并缩短处理时间（取决于表面光洁度）。这些功能可以无缝结合其他软件模块，包括楔形&去中心、环形透镜等，使LUPHOScan成为真正全面的精密光学和机械计量学解决方案。
兼具最高精度与绝对测量能力
多波长干涉测量（MWLI®）
LUPHOScan采用MWLI®技术，实现高精度距离测量。
最多可使用四个波长来获得稳健且绝对的测量结果。同时评估所有信号，以增强鲁棒性。通过计算合成拍频波长，可大幅扩展绝对测量能力。
我们的多波长技术能够计算合成拍频波长–，从而实现高达 1.25 毫米的绝对测量范围。与传统干涉仪相比，绝对测量能力扩展至 4000 倍以上，使得间断和分段表面也能被测量。
按照最高标准设计和制造
LUPHOScan 提供 SD 或 HD 平台可选。这两个平台均具备全面的零件测量能力，拥有相同的核心灵活性和功能，是各种光学计量学应用的强大工具。配置的选择取决于环境和测量任务的具体要求。
LUPHOScan 260 SD 理想适用于稳定的实验室环境以及低斜率部件的应用。’非常适合需要短期稳定性的场合，例如测量小批量部件或进行偶尔的质量检查。简化的安装与配置流程和稳定的性能，使其成为受控环境下经济高效的解决方案。
相比之下，LUPHOScan 260 HD 专为更具挑战性的环境而设计。其配备了温度补偿和主动振动隔离等先进功能，使其非常适合生产车间等不太稳定的环境。HD 配置在测量具有陡峭坡度或极端几何形状的光学元件方面表现出色，包括鸥翼透镜等复杂的非球面。它还具有长期稳定性，是大批量生产和连续运行的首选。
本页所展示的所有测量和参考均为可实现的示例。
仪器性能数据详见产品手册。