CCI MP-HS

  • Overview +


    无论测量的是何种元件,无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 一百万高速相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量极其光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析。

    CCI MP-HS极大地扩展了分析能力,同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面,不需要进行复杂的测量模式切换,也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和报告,CCI MP-HS可轻松地整合到您的质量管理系统中。

    • 1048 x 1048像素阵列,视场广,高分辨率
    • 高级X、Y、Z拼接,扩展量程
    • RMS重复精度<0.2 埃,阶跃高度重复精度<0.1%
    • 整合抗振,优化抗噪性能
    • 多语言版本的Windows,64位软件
  • BROCHURES +

  • APPLICATIONS +