泰勒将于9月6-9日亮相CIOE中国光博会,诚邀您共赏新品!

星期五, 八月 11, 2017

 

光学工业的应用
 
泰勒测量仪器能超精密测量和深入分析光学透镜及相关配件的面型误差,为生产工艺的不断提高提供有力的支持, 帮助客户实现光学元件性能的最优化。

2017年9月6-9日 深圳会展中心
展区:精密光学展 镜头及摄像模组展
展台号:9J12
主营产品:LuphoScan非接触式光学轮廓仪、FTS PGI系列接触式光学轮廓仪、Talyrond系列圆柱度仪、Surtronic系列便携式表面粗糙度测量仪、准直与调平测量仪


镜头模仁的测量解决方案
- 可提供高精度测量以及形状重复性的测量数据

  • 接触式测量 – 独有的测量两侧陡峭的小镜头模仁能力
  • 非接触式测量 – 快速和全面的光学要素特征的三维测量
 
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Wafer晶圆和自由曲面的测量
- 具有自由曲面测量能力的光学测量系统

  • 能够进行3D光栅扫面测量和半径分析
  • 能够准确测量光学元件并与设计数据相比较
  • 非接触式测量 - 选用LuphoScan测量仪器的“custom-designed’ 定制透镜选项可进行自由曲面的测量
 
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大球面和非球面光学元件

  • 可测量的光学透镜直径可达600mm
  • 功能强大的软件节省了测量和加工时间
  • 可对非球面和衍射面样件进行反算,向设计师提供实际制造透镜面形(带误差)信息的反馈 ,方便其对关键设计系统进行调整,进而提高性能。
 
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菲涅耳透镜(Fresnel)的测量

  • Fresnel菲涅耳透镜测量角度可达55 °
  • 灵活测量各种类型的Fresnel透镜
  • 高速测量, 例如. 直径 = 50 mm, 30 zones: 8 min (全三维)
 
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